3次元測定機

精密測定

このページでは、TDCで実施している精密検査、精密測定に関する基礎的な知識をご紹介します。

TDCで実施している精密測定

株式会社ティ・ディ・シーでは、長年のノウハウの蓄積・独自の技術開発により確立した「超精密ラップ・超精密研磨加工」を受託にて行い、加工の際には以下のような各種精密測定を行っております。

  • 面粗さ測定
  • 平面度測定
  • AFMによる表面粗さ測定

面粗さ測定・平面測定をはじめとした「精密検査のみ」の受託もお受けいたしますので、ぜひお気軽にご相談ください。

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面粗さ測定

面粗さ測定では、加工物の「表面粗さ・面粗度」を測定します。

加工物の表面には、高さや深さ、間隔の異なる山や谷が連続した複雑な起伏が生じます。この起伏が大きなものを「うねり」といい、微小なものを「表面粗さ・面粗度」と呼びます。

この「表面粗さ・面粗度」は製品寿命や機械効率の向上、表面の光沢や手触りなどにも影響します。

そのため、とくに超精密加工の分野において「面粗さ測定」は、欠かすことのできない測定方法となります。

面粗さ測定には大きく分けて、「接触式」と「非接触式」の2種類の測定方法があります。

  • 接触式
    触針と呼ばれる先のとがったダイヤモンド製の針が試料を直接なぞることにより表面の凹凸を測定するもので、表面粗さ測定に広く用いられています
  • 非接触式
    光を使用したもので、共焦点方式を利用したレーザ顕微鏡、白色干渉方式を利用した白色干渉計などがあります

TDCではこの両者の測定器を所有しているため、あらゆる面粗さ測定にも対応が可能となっております。

平面度測定

TDCでは、ありがたいことに「他社にはない、より高精度な平面度」が求められる案件を数多くいただいております。

TDCでは、「三次元測定機」や「レーザー干渉計」といった平面度測定機を所有しており、お客様のご希望・加工物の仕様に応じて適切に使い分けています。

測定だけではなく、平面度の修正加工や各幾何公差の精度入れ加工、鏡面加工や試作品の製作なども合わせて対応が可能となっていますのでぜひお気軽にご相談ください。

AFMによる表面粗さ測定

AFM(Atomic Force Microscope:原子間力顕微鏡)とは、走査プローブ顕微鏡の一種となります。

微細な探針を膜の表面上で走査することで、試料の表面と探針の原子間にはたらく力を電気信号に変える事で表面の形状を観察します。

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法であり、 金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定することが可能です。

精密測定とは

精密測定に明確な定義はありませんが、一般的に精密な加工技術を要する機械部品の寸法や形状、表面の凹凸などを加工中または加工後に測定あるいは検査することを指します。

精密測定には前述の測定方法のほか、主に以下のようなさまざまな方法が用いられます。

  • 三次元測定
  • 画像測定
  • 輪郭形状測定
  • 二次元CAD照合
  • 三次元CAD照合
  • 幾何公差測定

三次元測定

三次元座標測定機を用い、図面や3Dモデルに対する寸法測定を行います。

精密さが要求されるような小さな部品から大型な製品まで幅広く対応が可能で、業界問わずにデータが求められる測定方法のひとつです。

TDCでも対応が可能です。

画像測定

画像測定機と画像測定プローブを利用し、非接触による二次元測定を行います。

レーザーを用いた非接触の測定方法では、高さ測定、輪郭形状測定、プログラム自動測定、多点測定などが可能です。

三次元測定機のプローブヘッドに装着する画像測定プローブでは、大型サイズの印刷物やフィルム状の製品など、通常の画像測定機では測定不可能な製品の二次元画像測定を非接触でおこなうことができます。

輪郭形状測定

輪郭形状測定では、輪郭形状測定機や画像測定機、三次元測定機、光学式3Dデジタイザのスキャニング測定を用いて、部品や金型などの表面をトレースし、輪郭形状データを取得することができます。

取り込んだデータを専用ソフト上で計算処理することで、寸法の測定や座標算出を行うことも可能です。

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